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功率器件动态特性智能测试系统AVATAR-D
功率器件动态特性智能测试系统AVATAR-D
参数测试类
AVATAR-D系列产品是一款全自动动态特性测试设备。主要用于IGBT/DIODE /MOSFET 等器件的双脉冲（包含开通特性、关断特性测试、反向恢复特性测试）、短路安全工作区和反偏安全工作区测试，测试方案完全符合IEC60747-9国···
功率器件静态特性智能测试系统AVATAR-S
功率器件静态特性智能测试系统AVATAR-S
参数测试类
AVATAR-S系列主要用于 IGBT/DIODE /MOSFET 等器件的静态参数（ICES +VTH +IGES +VF +VCEsat +V(BR)CES+GFS+KELVIN）测试，测试方案完全符合IEC60747-9国际标准。
绝缘耐压测试系统Thor-6000
绝缘耐压测试系统Thor-6000
参数测试类
AC输出电压：0.05-5000V，DC输出电压：0.05-6000V；IR测试范围（option）：1MΩ-10GΩ；可匹配chroma和菊水绝缘耐压仪；开尔文检测（option）：单路板卡2路开尔文输出；支持任意相与基（底）板之间的绝缘测试；（底板···
多功能功率循环智能测试系统ThermalX
多功能功率循环智能测试系统ThermalX
功率循环类
ThermalX 系列产品是一款多功能的功率半导体器件热学特性测试设备。主要用于 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET /BJT/SCR 等器件的秒级功率循环（PCsec）、分钟级功率循环（PCmin）、热阻（抗）测试（Rth/Zth）和···
智能环境老化测试系统HTXB&H3TXB
智能环境老化测试系统HTXB&H3TXB
环境寿命类
该系列产品是智能功率半导体器件环境老化试验设备。主要用于功率半导体器件的环境老化试验，比如Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的HTRB/HTGB/H3TRB/HV-H3TRB测试。
高加速应力智能测试系统HAST
高加速应力智能测试系统HAST
环境寿命类
HAST-1000 系列产品是一款高加速应力智能测试设备，特别适合于主要功率器件，比如 Si/SiC/GaN材料的IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等。
高温反偏/栅偏筛选测试系统 HTRB/HTGB
高温反偏/栅偏筛选测试系统 HTRB/HTGB
环境寿命类
用于车规级模块高温反偏量产筛选设备，主要用于产品的出厂前的高温反偏量产筛选，剔除早期失效器件。可以支持手动测试或者全自动测试。
车规级功率模块无功老化测试系统—Maxwell-pro
车规级功率模块无功老化测试系统—Maxwell-pro
应用测试类
Maxwell-pro设备适用于功率器件IGBT、SiC MOSFET出厂前的无功老化筛选，可用于模拟功率模块在新能源车上的应用工况，剔除早期失效器件或者研究器件在极端工况下的特性。
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山东阅芯电子科技有限公司

阅芯科技是一家专业从事半导体功率器件检测装备自主研发、制造的高新技术企业，公司产品丰富，涵盖环境寿命类(HTXB、HAST、H3TXB)、参数测试类(动态、静态、绝缘耐压)、功率循环类(PCmin、PCsec)、应用测试类(无功老化、老化)等功率器件检测设备。

公司产品以其高度集成化、可定制化、模块化的优势，服务超过100+知名半导体功率器件设计、制造、封装、第三方检测及高校研究所等单位。公司核心团队汇集了中国科学院...

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