多功能功率循环智能测试系统ThermalX
ThermalX 系列产品是一款多功能的功率半导体器件热学特性测试设备。主要用于 Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/DIODE/MOSFET /BJT/SCR 等器件的秒级功率循环(PCsec)、分钟级功率循环(PCmin)、热阻(抗)测试(Rth/Zth)和 K 曲线测试(TSP-Vpn)。
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高可靠性
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高效率
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高精度
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安全防护

产品测试能力与主要优势
源自国际知名功率半导体器件厂家高可靠设备技术基因,并经过自主优化、创新和长期验证,保证了整个系统的高可靠性;
ThemmalX 设备关键零部件全部采用进口组件,保证产品品质;
一台设备可以完成 Kcurve/Zth/Rth/PCsec/PCmin试验,最大化提高了设备使用率和试验场地利用率;
样品加热电流可以 1us 内去除,保证Zth测试精度;
设备运用了互补输出、软切换、硬关断、高速壳温测量、IGES 监测、结构函数提取等多项技术,确保测试精度;
数据保存方式采用一边试验一边保存,避免数据丢失;
采用数据库管理结构存储格式,方便后期对试验结果查询、检索、分析和计算等;
设备具有防爆、防触电、防烫伤、烟雾、漏液等多重保护;
远程测试充分保证了测试人员安全;
符合人体美工学的外观及结构设计,确保使用的舒适性;
符合操作习惯的软件设计,使得操作更加容易。
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